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上海標(biāo)恒電子科技有限公司
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聯(lián)系人：李曉諾 13818902378
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聯(lián)系人： 李先生
在線服務(wù)/咨詢
(71882285)
MSN：lxn@ok17.net錫晶 xijing薄膜測厚儀 CH-1-S
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- 儀器名稱：薄膜測厚儀
- 儀器品牌：錫晶 xijing
- 儀器型號：CH-1-S
- 送貨時間：48小時內(nèi)
- 標(biāo)準(zhǔn)價格：不詳
- 本站售價：洽詢
- 關(guān)鍵參數(shù)：CH-1-S型薄膜測厚儀 適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）,量程：0-1mm 分度值：0.001mm.上測頭曲率半徑：15-50mm.測頭對試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N.測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm/100-250vm＜2vm/250vm＜3vm
性能參數(shù)介紹
下載說明
軟件下載： 無 
資料下載： 無
產(chǎn)品介紹
CH－1－S型薄膜測厚儀
技術(shù)要求和特點(diǎn)：
一、 概述
本測厚議適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、主要參數(shù)
1. 量程：0
2. 上測頭曲率半徑：15
3. 測頭對試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N
4. 測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
100-250vm＜2vm
250vm＜3vm
電源標(biāo)準(zhǔn)
無
標(biāo)準(zhǔn)配置
CH-1-S型薄膜測厚儀 主機(jī)一套 說明書一份。
可選附件
無
標(biāo)準(zhǔn)證書
執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
代理品牌專賣
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滬ICP備06013323號
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